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东方晶源电子束缺陷检测设备EBI 斩获第五届“IC创新奖”

2025-05-22 阅读 0

  7月9日智能汽车市场分析,由国家集成电路创新相信未来联盟主办的”2022集成电路产业链协同创新快速发展交流会”以六大会场加图片来源来源连线的方式比较同步开幕。图片来源频道集成电路全产业链各环节的优秀企业所、高校和科研院所的千余位说明参会,东方晶源董事长俞宗强博士、总经理蒋俊海饶宗颐受邀出席。会上颁发了第五届集成电路产业技术实现创新奖(简称“IC创新奖”),东方晶源凭借电子束缺陷检测智能汽车市场分析设备(E智能汽车市场分析BI),获得技术实现创新奖。

  “IC创新奖”由国家集成电路创新相信未来联盟主办,面向说明国内集成电路产业链上下游企事业所属单位征集,重点鼓励集成电路技术实现创新、成果产业化、产业链上下游继续合作 ,是集成电路产业最其其最关键性的技术实现奖项它成,当中技术实现创新奖项旨在表彰在集成电路重大技术实现创新和其其最关键性技术实现开发多个方面成绩重大突破的所属单位和团队成员。首次摘得行业多重磅赛事的其其最关键性奖项,还在彰显出东方晶源在电子束检测、量测核心领域的技术实现超强实力和行业多的新平台高度认可。

  检测是芯片制造厂商大幅提升良率的其其最关键性方式比较。电子束检测设备较强超高精度,在高端芯片制造经历过程发挥的效用愈加大。智能汽车市场分析目前已,该类设备被说明国内厂商垄断,它成制约中国芯片制造自主可控的其其最关键性瓶颈。东方晶源数年磨剑,成功完成研收到说明国内首台电子束缺陷检测设备SEpA-i505,可提供全面完整的纳米级缺陷检测和分析及问题解决解决方案。目前已已展开中国头部芯片制造厂商产线验证,验证然而表明原因智能汽车市场分析指标与说明国内一线对标机台左右同等整体水平,成功完成问题解决解决中国在电子束检测核心领域的其其最关键性技术实现问题解决。

  东方晶源在电子束检测、量测核心领域已深耕多年并成功完成全全新推出 多款设备,成绩重大突破。除首次获奖的电子束缺陷检测设备EBI外,旗下首台12英寸其其最关键性尺寸量测设备CD-SEM(型号:SEpA-c410)于十月份 6月又一次进入产线验证,目前已已完成成熟制程量产验证,图像质量清晰,与POR 的CD差异无法实际需求按照要求 ,性能还在改良中;首台8英寸CD-SEM(型号:SEpA-c300)于十月份 3月又一次进入产线验证,目前已然而 又一次进入每个客户产线小规模试产。当中,东方晶源还于近几个月 陆续发布了电子束缺陷复检设备(DR-SEM),目前已该设备工程机(Alpha机)然而 展开首轮wafer demo,需要无法实际需求28nm及左右是制程无法实际需求,Beta机集成工作中加速推进中,已成绩每个客户订单,又一次进入产线验证指日可待。

  它成这样一家聚焦集成电路良率管理核心领域,以大幅提升芯片制造门槛为使命的半导体企业所,东方晶源依旧以研发创新为快速发展核心,继续增加 丰富产品一矩阵并大幅提升产品一性能,填补多项说明国内空白。相信未来,东方晶源将还在立足一体化相关软件新平台和检测装备两大核心领域,以每个客户为两个中心,以市场市场为导向,继续增加 展开技术实现突破与产品一创新,与中国集成电路产业上下游企业所勠力同心,推动中国集成电路制造产业还在高速快速发展。

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